條碼檢驗(yàn)相關(guān)術(shù)語和定義

　?。?）最低反射率（Rmin）： 掃描反射率曲線上最低的反射率值。

　?。?）最高反射率（Rmax）： 掃描反射率曲線上最高的反射率值。

　　（3）符號反差（SC）： 掃描反射率曲線的最高反射率與最低反射率之差。

　　（4）總閾值（global threshold，GT）： 用以在掃描反射率曲線上區(qū)分條、空的一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)反射率值。掃描反射率曲線在總閾值線上方所包的那些區(qū)域，即空；在總閾值線下方所包的那些區(qū)域，即條。 GT=（Rmax+Rmin/2或GT=Rmin+SC/2條反射率（Rb）： 掃描反射率曲線上某條的最低反射率值。

　?。?）空反射率（Rs）： 掃描反射率曲線上某空的最高反射率值。

　?。?）單元（element）： 泛指條碼符號中的條或空。

　?。?）單元邊緣（element edge）： 掃描反射率曲線上過毗鄰單元（包括空白區(qū)）的空反射率（Rs）和條反射率（Rb）中間值（即Rs+Rb）/2）的點(diǎn)的位置。

　?。?）邊緣判定（edge determination）： 按單元邊緣的定義判定掃描反射率曲線上的單元邊緣。如果兩毗鄰單元之間有多于一個(gè)代表單元邊緣的點(diǎn)存在，或有邊緣丟失，則該掃描反射率曲線為不合格?？瞻讌^(qū)和字符間隔視為空。

　?。?）邊緣反差（EC）： 毗鄰單元（包括空白區(qū)）的空反射率和條反射率之差。

　?。?0）最小邊緣反差（ECmin）： 掃描反射率曲線上所有邊緣反差中的最小值。

　?。?1）調(diào)制度（MOD）： 最小邊緣反差（ECmin）與符號反差（SC）的比。

　　（12）單元反射率不均勻性（ERN）： 某一單元中最高峰反射率與最低谷反射率的差。

　?。?3）缺陷（defects）： 單元反射率最大不均勻性（ERNmax）與符號反差（SC）的比。

　　（14）可譯碼性（decodability）： 與適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)譯碼算法相關(guān)的條碼符號印制精度的量度，即條碼符號與標(biāo)準(zhǔn)譯碼算法有關(guān)的各個(gè)單元或單元組合尺寸的可用容差中，未被印制偏差占用的部分與該單元或單元組合尺寸的可用容差之比的最小值。

　?。?5）掃描反射率曲線

　　沿掃描路徑，反射率隨線性距離變化的關(guān)系曲線，見圖8-1。